1.
電極を消耗させ溶接するマグ溶接とミグ溶接はアーク溶接の一種であり、非消耗のタングステン電極を用いるティグ溶接は電気抵抗溶接の一種である。
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正解!
不正解!
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電極を消耗させ溶接するマグ溶接とミグ溶接はアーク溶接の一種であり、非消耗のタングステン電極を用いるティグ溶接はアーク溶接の一種である。
2.
抵抗溶接は、ろう接という機械的圧力を加えて接合する溶接方法に分類される。
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正解!
不正解!
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抵抗溶接は、圧接という機械的圧力を加えて接合する溶接方法に分類される。
3.
溶接の熱影響部は、溶接等の熱で金属組織や機械的性質が変化を受けた母材の溶融部である。
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正解!
不正解!
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溶接の熱影響部は、溶接等の熱で金属組織や機械的性質が変化を受けた溶融していないい母材の部分である。
4.
ティグ溶接は、溶加材を電極とし、不活性ガスでアーク及び溶融池を完全にシールドしているため、不純物が混入せず、 高品質な溶接が得られる。
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正解!
不正解!
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ティグ溶接は、ダングステンを電極とし、不活性ガスでアーク及び溶融池を完全にシールドしているため、不純物が混入せず、 高品質な溶接が得られる。
5.
ティグ溶接は、電極と母材間でアークを発生させ、母材上の溶融池にワイヤを供給する溶接方法であり、溶融池の熱のみでワイヤを溶融させるため溶接速度が速い。
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正解!
不正解!
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ティグ溶接は、電極と母材間でアークを発生させ、母材上の溶融池にワイヤを供給する溶接方法であり、溶融池の熱のみでワイヤを溶融させるため溶接速度が遅い。
6.
被覆アーク溶接は、心線に枝援剤(フラックス)を塗った溶接棒自体を電極として、母材と溶接棒の間隙にアークを発生させ、溶接棒がアークの熱によって溶け、母材の一部と融合することで溶接する。
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正解!
不正解!
○
この文章は正しい。
7.
被覆アーク溶接は、溶接設備が安価であるが、溶接姿勢に制限を受ける。
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正解!
不正解!
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被覆アーク溶接は、溶接設備が安価であるが、溶接姿勢に制限を受けない。
8.
被覆アーク溶接棒の心線は、炭素が低く有害な不純物が少ない鋼が用いられ、大気中に放置すると水分を吸収し、ブローホール等の欠陥の原因となる。
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正解!
不正解!
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被覆アーク溶接棒の心線は、炭素が低く有害な不純物が少ない鋼が用いられ、大気中に放置すると被覆材が水分を吸収し、ブローホール等の欠陥の原因となる。
9.
普通軟鋼用の放覆アーク溶接棒の心線は、炭素が多く、リン、イオウ等の有害な不純物が少ない鋼が用いられる。
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正解!
不正解!
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普通軟鋼用の放覆アーク溶接棒の心線は、炭素が少なく、リン、イオウ等の有害な不純物が少ない鋼が用いられる。
10.
溶接施工法は、溶接事業所かつ溶接士ごとに確認を受けなければならない。
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正解!
不正解!
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溶接施工法は、溶接事業所または工場ごとに確認を受けなければならない。
11.
溶接部の構造上の欠陥として、溶込み不良、融合不良、ブローホール、アンダーカッ卜等のきずがある。
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正解!
不正解!
○
この文章は正しい。
12.
溶込み不良とは、溶接金属と母材又は溶接金属同士が溶着していない状態をいう。
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正解!
不正解!
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融合不良とは、溶接金属と母材又は溶接金属同士が溶着していない状態をいう。
溶け込み不良とは、設計溶込みに比べ実溶込みが不足している状態をいう。
13.
放射線透過写真によるきずの種別は第1種から第4種まで区別され、丸いブローホール及びこれに類するきずは第4種となる。
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正解!
不正解!
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放射線透過写真によるきずの種別は第1種から第4種まで区別され、丸いブローホール及びこれに類するきずは第1種となる。
14.
開先不良は、溶込み不良や割れ等の原因となる。
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正解!
不正解!
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この文章は正しい。
15.
導管の突合せ溶接部に用いる開先形状は、V形を用いることになっており、U形は用いてはならない。
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正解!
不正解!
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導管の突合せ溶接部に用いる開先形状は、V形、U形などが多くを用いられる。
16.
放射線透過試験において、試験体の内部にきずがある場合、放射線フィルムで露光するときずのある部分は健全部より濃度が薄くなる。
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正解!
不正解!
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放射線透過試験において、試験体の内部にきずがある場合、放射線フィルムで露光するときずのある部分は健全部より濃度が濃くなる。
17.
放射線透過試験の二重壁片面撮影法は、 主に大口径管の場合に用いられる。
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正解!
不正解!
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放射線透過試験の二重壁片面撮影法は、 主に小口径管の場合に用いられる。
18.
超音波探傷試験は、超音波が物質の端面や違う物質に当たると吸収される性質を利用し、内部のきずの存在や位置・大きさを検知する方法である。
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正解!
不正解!
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超音波探傷試験は、超音波が物質の端面や違う物質に当たると反射される性質を利用し、内部のきずの存在や位置・大きさを検知する方法である。
19.
超音波探傷試験は、検査物の片側だけから検査できるが、きずまでの距離やきずの高さは測定できない。
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正解!
不正解!
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超音波探傷試験は、検査物の片側だけから検査でき、きずまでの距離やきずの高さも測定できる。